视(Shi)频(Pin)显(Xian)微(Wei)镜(Jing)可(Ke)用(Yong)来(Lai)检(Jian)测(Ce)PCB电(Dian)路(Lu)板(Ban)

       由(You)于(Yu)PCB电(Dian)路(Lu)板(Ban)在(Zai)生(Sheng)产(Chan)过(Guo)程(Cheng)中(Zhong)受(Shou)许(Xu)多(Duo)不(Bu)确(Que)定(Ding)因(Yin)素(Su)的(De)影(Ying)响(Xiang)如(Ru)原(Yuan)材(Cai)料(Liao)、(?)设(She)备(Bei)稳(Wen)定(Ding)性(Xing)、(?)温(Wen)度(Du)、(?)环(Huan)境(Jing)以(Yi)及(Ji)人(Ren)为(Wei)的(De)错(Cuo)误(Wu)操(Cao)作(Zuo)等(Deng)，(?)造(Zao)成(Cheng)缺(Que)陷(Xian)是(Shi)很(Hen)难(Nan)避(Bi)免(Mian)的(De)，(?)出(Chu)现(Xian)的(De)故(Gu)障(Zhang)基(Ji)本(Ben)都(Du)是(Shi)线(Xian)路(Lu)错(Cuo)误(Wu)，(?)主(Zhu)要(Yao)可(Ke)分(Fen)为(Wei)：(?)短(Duan)路(Lu)、(?)断(Duan)路(Lu)、(?)毛(Mao)刺(Ci)、(?)缺(Que)损(Sun)几(Ji)类(Lei)。(?)如(Ru)果(Guo)不(Bu)及(Ji)时(Shi)地(Di)将(Jiang)这(Zhe)些(Xie)质(Zhi)量(Liang)问(Wen)题(Ti)检(Jian)查(Cha)出(Chu)来(Lai)，(?)势(Shi)必(Bi)在(Zai)PCB板(Ban)调(Diao)试(Shi)和(He)使(Shi)用(Yong)过(Guo)程(Cheng)中(Zhong)留(Liu)下(Xia)隐(Yin)患(Huan)，(?)造(Zao)成(Cheng)更(Geng)大(Da)的(De)损(Sun)失(Shi)，(?)所(Suo)以(Yi)必(Bi)须(Xu)实(Shi)施(Shi)严(Yan)格(Ge)的(De)中(Zhong)间(Jian)检(Jian)验(Yan)。(?)由(You)于(Yu)人(Ren)工(Gong)检(Jian)查(Cha)劳(Lao)动(Dong)强(Qiang)度(Du)大(Da)，(?)眼(Yan)睛(Jing)容(Rong)易(Yi)产(Chan)生(Sheng)疲(Pi)劳(Lao)，(?)漏(Lou)验(Yan)率(Lu)很(Hen)高(Gao)。(?)而(?)且(Qie)随(Sui)着(Zhuo)电(Dian)子(Zi)产(Chan)品(Pin)朝(Chao)着(Zhuo)小(Xiao)型(Xing)化(Hua)、(?)数(Shu)字(Zi)化(Hua)发(Fa)展(Zhan)，(?)印(Yin)制(Zhi)电(Dian)路(Lu)板(Ban)也(Ye)朝(Chao)着(Zhuo)高(Gao)密(Mi)度(Du)、(?)高(Gao)精(Jing)度(Du)发(Fa)展(Zhan)，(?)采(Cai)用(Yong)人(Ren)工(Gong)检(Jian)验(Yan)的(De)方(Fang)法(Fa)，(?)基(Ji)本(Ben)无(Wu)法(Fa)实(Shi)现(Xian)。(?)对(Dui)更(Geng)高(Gao)密(Mi)度(Du)和(He)精(Jing)度(Du)电(Dian)路(Lu)板(Ban)(0.12-0.10mm),己(Ji)完(Wan)全(Quan)无(Wu)法(Fa)检(Jian)验(Yan)。(?)检(Jian)测(Ce)手(Shou)段(Duan)的(De)落(Luo)后(Hou)，(?)导(Dao)致(Zhi)目(Mu)前(Qian)国(Guo)内(Nei)多(Duo)层(Ceng)板(Ban)(8-12层(Ceng))的(De)产(Chan)品(Pin)合(He)格(Ge)率(Lu)仅(Jin)为(Wei)50-60%。(?)
　(?)　(?)视(Shi)频(Pin)显(Xian)微(Wei)镜(Jing)将(Jiang)精(Jing)锐(Rui)的(De)光(Guang)学(Xue)显(Xian)微(Wei)镜(Jing)技(Ji)术(Shu)、(?)先(Xian)进(Jin)的(De)光(Guang)电(Dian)转(Zhuan)换(Huan)技(Ji)术(Shu)、(?)液(Ye)晶(Jing)屏(Ping)幕(Mu)技(Ji)术(Shu)地(Di)结(Jie)合(He)在(Zai)一(Yi)起(Qi)而(?)开(Kai)发(Fa)研(Yan)制(Zhi)成(Cheng)功(Gong)的(De)一(Yi)项(Xiang)高(Gao)科(Ke)技(Ji)产(Chan)品(Pin)。(?)可(Ke)以(Yi)将(Jiang)显(Xian)微(Wei)镜(Jing)看(Kan)到(Dao)的(De)实(Shi)物(Wu)图(Tu)像(Xiang)通(Tong)过(Guo)数(Shu)模(Mo)转(Zhuan)换(Huan)，(?)使(Shi)其(Qi)成(Cheng)像(Xiang)在(Zai)显(Xian)微(Wei)镜(Jing)自(Zi)带(Dai)的(De)屏(Ping)幕(Mu)上(Shang)或(Huo)计(Ji)算(Suan)机(Ji)上(Shang)。(?)从(Cong)而(?)，(?)我(Wo)们(Men)可(Ke)以(Yi)对(Dui)微(Wei)观(Guan)领(Ling)域(Yu)的(De)研(Yan)究(Jiu)从(Cong)传(Chuan)统(Tong)的(De)普(Pu)通(Tong)的(De)双(Shuang)眼(Yan)观(Guan)察(Cha)到(Dao)通(Tong)过(Guo)显(Xian)示(Shi)器(Qi)上(Shang)再(Zai)现(Xian)，(?)操(Cao)作(Zuo)简(Jian)单(Dan)快(Kuai)捷(Jie)，(?)从(Cong)而(?)提(Ti)高(Gao)了(Liao)工(Gong)作(Zuo)效(Xiao)率(Lu)。(?)轻(Qing)松(Song)满(Man)足(Zu)印(Yin)刷(Shua)电(Dian)路(Lu)板(Ban)PCB生(Sheng)产(Chan)过(Guo)程(Cheng)中(Zhong)质(Zhi)量(Liang)检(Jian)测(Ce)要(Yao)求(Qiu)。(?)